本实用新型公开了一种磁阻芯片温湿度影响校正补偿系统，包括可控温湿度试验箱，磁阻芯片测试台，信号采集单元，一维亥姆霍兹线圈，高精度程控电流源，磁场测试单元和标定单元；可控温湿度试验箱提供温湿度环境，待测试芯片通过磁阻芯片测试台和信号采集单元与标定单元连接；高精度程控电流源在标定单元控制下，控制一维亥姆霍兹线圈提供一维均匀磁场；磁场测试单元检测并发送一维亥姆霍兹线圈中均匀区的磁场强度至标定单元。本实用新型通过可控温湿度试验箱提供不同的温湿度环境，通过一维亥姆霍兹线圈为待测芯片提供均匀磁场，检测记录磁阻芯片在不同温湿度条件下的不同磁场环境中的响应情况，得到芯片的实际响应数据，完成了对芯片的数据采集。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利