本实用新型提出一种IGBT测试系统的过电压保护测试装置，所述过电压保护测试装置（37）设于外壳体（90）内的基板（1）上，且与基板上的总控制器（2）相连；当进行IGBT测试时，所述过电压保护测试装置向待测IGBT模组提供的预设电压为过电压，当过电压发生使待测IGBT模组处于保护导通状态时，限流保护模块限制过电压保护测试装置的电流输出，并停止过电压保护测试装置的电压加压，以保护待测IGBT模组；过电压保护测试装置的数据采集单元记录过电压保护值，并将数据传送至总控制器，总控制器根据其内部预设的测量标准生成判断结果；本实用新型可用于IGBT的过电压保护测试。