- 专利标题: 一种非接触式测量被保护层膨胀变形量的装置
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申请号: CN202021855578.2申请日: 2020-08-31
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公开(公告)号: CN212903074U公开(公告)日: 2021-04-06
- 发明人: 李延河 , 薛俊华 , 李洪彪 , 马骞 , 袁占栋 , 杜轩宏 , 詹可亮 , 白子良 , 孙宝强
- 申请人: 西安科技大学 , 平顶山天安煤业股份有限公司六矿
- 申请人地址: 陕西省西安市雁塔中路58号;
- 专利权人: 西安科技大学,平顶山天安煤业股份有限公司六矿
- 当前专利权人: 西安科技大学,平顶山天安煤业股份有限公司六矿
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市雁塔中路58号;
- 代理机构: 北京高沃律师事务所
- 代理商 苏士莹
- 主分类号: G01B11/16
- IPC分类号: G01B11/16
摘要:
本实用新型公开了一种非接触式测量被保护层膨胀变形量的装置,包括安装单元和测量单元,安装单元包括第一托盘、第二托盘、第一空心杆、第二空心杆和光纤准直器;测量单元包括依次连接的波长扫描光源、第一光纤耦合器和第三光纤耦合器,还包括依次连接的第二光纤光栅、第一光纤光栅、第二光纤耦合器、第二光电探测器、A/D转换器和计算机。本实用新型的非接触式测量被保护层膨胀变形量的装置提高了被保护层膨胀变形量测量的便利性、精度和稳定性。