实用新型
- 专利标题: 安检设备及安检系统
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申请号: CN202123413441.9申请日: 2021-12-31
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公开(公告)号: CN216595556U公开(公告)日: 2022-05-24
- 发明人: 李元景 , 孙尚民 , 宗春光 , 宋涛 , 刘磊 , 马媛 , 喻卫丰 , 刘必成
- 申请人: 同方威视科技(北京)有限公司 , 同方威视技术股份有限公司
- 申请人地址: 北京市密云区经济开发区园林路18号10号楼;
- 专利权人: 同方威视科技(北京)有限公司,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人: 同方威视科技(北京)有限公司,同方威视技术股份有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市密云区经济开发区园林路18号10号楼;
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 张博
- 主分类号: G01V5/00
- IPC分类号: G01V5/00 ; G01N23/04
摘要:
本实用新型提供一种安检设备及安检系统,包括:支架,限定沿第一方向延伸的检查通道;第一X射线加速器,设置在支架的顶部偏移检查通道的中心线的位置,配置成向下朝向检查通道辐射第一X射线,用以对通过检查通道的待检物品进行检查;第二X射线加速器,配置成沿第三方向向检查通道辐射第二X射线用以对通过检查通道的待检物品进行检查;以及探测器装置,包括:多个探测器模块,设置在支架上与第一X射线加速器和第二X射线加速器面对的位置,用于接收至少一部分第一X射线和/或第二X射线,以形成待检物品的透射图像;其中,第一X射线、第二X射线及探测器装置中的探测器模块构造成位于同一平面内。