实用新型
- 专利标题: 检查系统
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申请号: CN202223598594.X申请日: 2022-12-30
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公开(公告)号: CN218886185U公开(公告)日: 2023-04-18
- 发明人: 刘明 , 张琦 , 高克金 , 孟辉 , 樊旭平 , 宋涛 , 宋全伟 , 史俊平 , 宗春光 , 刘必成 , 马媛 , 迟豪杰 , 喻卫丰 , 刘磊
- 申请人: 同方威视技术股份有限公司 , 同方威视科技(北京)有限公司
- 申请人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层;
- 专利权人: 同方威视技术股份有限公司,同方威视科技(北京)有限公司
- 当前专利权人: 同方威视技术股份有限公司,同方威视科技(北京)有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层;
- 代理机构: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司
- 代理商 桑敏
- 主分类号: G01V5/00
- IPC分类号: G01V5/00 ; G01N23/04 ; G01C9/00 ; F16M11/04 ; F16M11/06
摘要:
本实用新型涉及检查系统。检查系统包括:第一成像系统,包括:第一舱体以及平台组件,平台组件为一体式n型平台,该一体式n型平台具有平台结构和位于平台结构两侧的第一竖臂结构和第二竖臂结构,第一舱体附接于平台结构上,第一探测器组件被设置在平台组件中;以及第二成像系统,包括:第二舱体、上臂架和竖臂架,上臂架为一体式n型臂架,上臂架的第三竖臂结构与第二舱体附接,上臂架的第四竖臂结构与竖臂架的上端附接,第二舱体的侧部、竖臂架和上臂架中的至少一者包括第二探测器组件,其中平台组件的第一竖臂结构附接到第二舱体。