本实用新型公开了一种汽车MCU耐久测试设备，包括测试箱、控制箱和温度控制器，测试箱铰接有箱门，温度控制器和控制箱电性连接，还包括移动板，移动板滑动连接在测试箱的内部，测试箱连接有移动机构；放置盘，放置盘和移动板转动连接，移动板连接有转动机构；连接座，连接座和控制箱电性连接，连接座和放置盘固定连接；拔插机构，拔插机构包括第一电动缸和第二电动缸，第一电动缸固定安装在放置盘上，第一电动缸的输出端固定连接有安装架，第二电动缸安装在安装架上，安装架固定连接有用于放置汽车MCU的连接头的限位架，第二电动缸的输出端固定连接有压块。本实用新型便于将汽车MCU放入测试箱的内部，便于将汽车MCU从测试箱的内部取出。