公开了一种芯片的强度测试装置，包括：基座以及位于基座上的夹具；夹具包括沿第一方向相对设置的第一夹块和第二夹块，第一夹块与第二夹块相对的一侧嵌设有第一夹持部，第二夹块与第一夹块相对的一侧嵌设有第二夹持部；第一夹持部和第二夹持部用于固定待测试的芯片，第一方向平行于基座平面；滑杆，设置在夹具的上方且沿第一方向延伸；闸刀，与滑杆连接并设置在滑杆的下方；其中，闸刀可以在滑杆上沿第一方向来回滑动和/或夹具可以在基座上沿第一方向来回滑动，以使闸刀对齐待测试的芯片的中心点。