Der zu identifizierende Edelstein (1) befindet sich zusammen mit einem Datenträger (2) in einem Aufbewahrungsbehältnis (3). Er wird in einer Zentralstation (9a) mit Licht angestrahlt und das von seinen Flächen reflektierte Licht wird auf einer Mattscheibe (66) aufgefangen. Von den zahlreichen Lichtflekken, deren Verteilung und Grösse charakteristisch ist für den betreffenden Edelstein, werden visuell einige ausgewählt und photoelektrisch vermessen. Die dabei gewonnenen Messdaten werden zusammen mit den die Lage und Grösse der Flecke bezeichnenden Messinstruktionen auf den Datenträger (2) in chiffrierter Form aufgezeichnet. Bei der Prüfung des Edelsteins (1) wird er zusammen mit dem ihm zugeordneten Datenträger (2) in eine Prüfeinrichtung (9b) eingeführt und dort in gleicher Weise wie in der Zentralstation (9a) vollautomatisch vermessen, wobei die Position der Messbereiche durch die dechiffrierten Messinstruktionen aus dem Datenträger (2) bestimmt sind. Die gemessenen Abtastwerte werden dann mit den dechiffrierten gespeicherten Messwerten verglichen und daraus der Identifikationsbefund abgeleitet.