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EP0097086A1 Table d'examen à guidage linéaire 失效
检查台与直线导轨。

  • 专利标题： Table d'examen à guidage linéaire
  • 专利标题（英）： Linearly guided examination table
  • 专利标题（中）： 检查台与直线导轨。
  • 申请号： EP83401141.3
    申请日： 1983-06-03
  • 公开(公告)号： EP0097086A1
    公开(公告)日： 1983-12-28
  • 发明人: Chambron, Edmond
  • 申请人： THOMSON-CSF
  • 申请人地址： 173, Boulevard Haussmann 75008 Paris FR
  • 专利权人： THOMSON-CSF
  • 当前专利权人： THOMSON-CSF
  • 当前专利权人地址： 173, Boulevard Haussmann 75008 Paris FR
  • 代理机构： Grynwald, Albert
  • 优先权： FR8210241 19820611
  • 主分类号： A61B6/04
  • IPC分类号： A61B6/04 ;  A61G7/10
Table d'examen à guidage linéaire
摘要：
L'invention concerne une table d'examen à guidage linéaire permettant un déplacement longitudinal d'un panneau (2), parallèlement à un premier axe (y-y), dans des conditions telles que ce panneau (2) présente au rayonnement une absorption faible et homogène.
Ce panneau (2), supporté par un premier rouleau (18), a une extrémité (30) en porte-à-faux, dans une proportion variable en fonction de son déplacement longitudinal.
摘要（英）：

The invention relates to a linear guide examination table allowing a longitudinal movement of a panel (2), parallel to a first axis (yy), in conditions such that this panel (2) has at a low radiation absorption and homogeneous. This panel (2), supported by a first roller (18) has an end (30) in cantilever, in a variable proportion as a function of its longitudinal displacement.

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