发明公开
- 专利标题： Abtastverfahren und Abtasteinrichtung
- 专利标题（英）： Scanning method and arrangement
- 专利标题（中）： 扫描和扫描。
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申请号： EP82104843.6申请日： 1982-06-03
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公开(公告)号： EP0097724A1公开(公告)日： 1984-01-11
- 发明人: Jürgensen, Heinrich , Zelenka, Thomas
- 申请人： DR.-ING. RUDOLF HELL GmbH
- 申请人地址： Grenzstrasse 1-5 D-24149 Kiel DE
- 专利权人： DR.-ING. RUDOLF HELL GmbH
- 当前专利权人： DR.-ING. RUDOLF HELL GmbH
- 当前专利权人地址： Grenzstrasse 1-5 D-24149 Kiel DE
- 主分类号： H04N1/38
- IPC分类号： H04N1/38
摘要：
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur punkt- und zeilenweisen optoelektronischen Abtastung von Vorlagen, welche auf einem lichtdurchlässigen Vorlagenträger angeordnet sind, und eine Abtasteinrichtung. Durch gleichzeitige Aufsichts- und Durchsichts-Abtastung der Vorlagen werden zwei Abtastsignale von derselben Vorlagenstelle gewonnen, wobei eines der Abtastsignale das eigentliche Bildsignal der Vorlagen und das andere Abtastsignal ein Erkennungssignal für diejenigen Vorlagenstellen ist, an denen Amplitudenfehler im Bildsignal aufgrund von Streulicht und/oder Abschattungen auftreten. Die störenden Amplitudenfehler werden mit Hilfe des Erkennungssignals beseitigt.
公开/授权文献
- EP0097724B1 Abtastverfahren und Abtasteinrichtung 公开/授权日：1985-10-02
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