发明授权
- 专利标题： Method of screening resin-sealed semiconductor devices
- 专利标题（中）： 筛选密封半导体器件的方法
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申请号： EP83401874.9申请日： 1983-09-26
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公开(公告)号： EP0105003B1公开(公告)日： 1987-03-11
- 发明人: Nakamura, Kazuo
- 申请人： FUJITSU LIMITED
- 申请人地址： 1015, Kamikodanaka, Nakahara-ku Kawasaki-shi, Kanagawa 211 JP
- 专利权人： FUJITSU LIMITED
- 当前专利权人： FUJITSU LIMITED
- 当前专利权人地址： 1015, Kamikodanaka, Nakahara-ku Kawasaki-shi, Kanagawa 211 JP
- 代理机构： Joly, Jean-Jacques
- 优先权： JP168933/82 19820928
- 主分类号： H01L21/66
- IPC分类号： H01L21/66 ; G01R31/28
公开/授权文献
- EP0105003A1 Method of screening resin-sealed semiconductor devices 公开/授权日：1984-04-04
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