发明公开
- 专利标题： Procédé et dispositif pour le contrôle et la régulation de l'épaisseur d'un revêtement métallique mince déposé sur un support
- 专利标题（英）： Process and apparatus for controlling and regulating the coating thickness of supports
- 专利标题（中）： 用于监视和控制涂层对支撑表面的厚度的方法和装置。
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申请号： EP85402417.1申请日： 1985-12-04
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公开(公告)号： EP0186564A1公开(公告)日： 1986-07-02
- 发明人: Wang, Robert
- 申请人： STEIN HEURTEY
- 申请人地址： Z.A.I. du Bois de l'Epine BP No 69 F-91130 Ris Orangis FR
- 专利权人： STEIN HEURTEY
- 当前专利权人： STEIN HEURTEY
- 当前专利权人地址： Z.A.I. du Bois de l'Epine BP No 69 F-91130 Ris Orangis FR
- 代理机构： Armengaud Ainé, Alain
- 优先权： FR8419204 19841214
- 主分类号： C23C2/24
- IPC分类号： C23C2/24 ; C23C2/18
摘要：
@ Procédé pour le contrôle et la régulation de l'épaisseur d'un revêtement métallique déposé sur un support, notamment sur une bande, caractérisé en ce qu'il consiste à recevoir en continu et simultanément les informations relatives à l'épaisseur du revêtement réalisé sur ledit support, en plusieurs points de celui-ci, et à transmettre lesdites informations à des moyens de régulation d'épaisseur associés.
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