发明公开
EP0186768A2 Einrichtung zum Inspizieren der Oberfläche von Magnetspeicherplatten
失效
装置,用于检测存储磁盘的表面上。
- 专利标题: Einrichtung zum Inspizieren der Oberfläche von Magnetspeicherplatten
- 专利标题(英): Device for examining the surfaces of magnetic memory disks
- 专利标题(中): 装置,用于检测存储磁盘的表面上。
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申请号: EP85114645.6申请日: 1985-11-18
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公开(公告)号: EP0186768A2公开(公告)日: 1986-07-09
- 发明人: Bogdanski, Michael
- 申请人: Siemens Nixdorf Informationssysteme Aktiengesellschaft
- 申请人地址: Fürstenallee 7 D-33102 Paderborn DE
- 专利权人: Siemens Nixdorf Informationssysteme Aktiengesellschaft
- 当前专利权人: Siemens Nixdorf Informationssysteme Aktiengesellschaft
- 当前专利权人地址: Fürstenallee 7 D-33102 Paderborn DE
- 代理机构: Schaumburg, Thoenes & Thurn
- 优先权: DE3446991 19841221
- 主分类号: G11B33/10
- IPC分类号: G11B33/10 ; G11B23/50 ; G11B20/18 ; G11B5/012 ; G01N21/88
摘要:
Zur Inspektion von Magnetspeicherplatten (11) dient eine Betrachtungsanordnung (17, 18, 19), die an Stelle eines oder mehrerer Kopfarme an dem Kopfarmträger (16) eines Magnetplattenspeichers montierbar ist. Sie hat einen Kragarm (19), der zwischen die Magnetspeicherplatten (11) bewegt werden kann und an dem der Lichteintrittsteil der Betrachtungsanordnung (17, 1ε, 19) vorgesehen ist. Das mit dem Lichteintrittsteil (20) aufgenommene Bild wird zu dem Teil der Betrachtungsanordnung (17, 18, 19) geleitet, der sich außerhalb der Magnetspeicherplatten (11) am Kopfarmträger (16) befindet. Dort kann die Plattenoberfläche bequem inspiziert werden.
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