发明公开
- 专利标题: Verfahren zur Überprüfung von Bauteilen
- 专利标题(英): Process for the examination of components
- 专利标题(中): 检查组件的过程
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申请号: EP88109462.7申请日: 1988-06-14
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公开(公告)号: EP0296461A3公开(公告)日: 1990-05-09
- 发明人: Coen, Günther, Dr. , Oberhoff, Dietmar , Keck, Roland, Dr.
- 申请人: Betriebsforschungsinstitut VDEh Institut für angewandte Forschung GmbH
- 申请人地址: Postfach 10 51 64 D-40042 Düsseldorf DE
- 专利权人: Betriebsforschungsinstitut VDEh Institut für angewandte Forschung GmbH
- 当前专利权人: Betriebsforschungsinstitut VDEh Institut für angewandte Forschung GmbH
- 当前专利权人地址: Postfach 10 51 64 D-40042 Düsseldorf DE
- 代理机构: Plöger, Ulrich, Dipl.-Ing.
- 优先权: DE3720219 19870617
- 主分类号: G01N29/04
- IPC分类号: G01N29/04
摘要:
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Überprüfung von in der Herstellung oder im Einsatz befindlichen Bauteilen mit inneren Fehlern mittels Ultraschallsignalen, insbesondere bei dickwandigen Bauteilen, wie Schmiedestücken. Der Ultraschallprüfkopf wird dabei entlang einer Linie über die Fläche des Bauteils geführt, während den Ultraschallsignalen in einem Rechner elektronisch eine synthetische Apertur zugeordnet wird und die Signale anschließend in einem Speicher dargestellt werden. Die empfangenen Signale werden gemittelt und je nach Prüfdatendichte zwecks einer Bildrekonstruktion oder einer Mustererkennung weiter verarbeitet, woraufhin bei noch in der Verarbeitung befindlichen Bauteilen die Verformungsbedingungen so eingestellt werden, daß ein zum Vergleich herangezogenes tolerables Fehlermaß unterschritten wird, während bei bereits im Einsatz befindlichen Bauteilen bei Überschreiten eines tolerablen Fehlermaßes deren Austausch vorgenommen wird.
公开/授权文献
- EP0296461B1 Verfahren zur Überprüfung von Bauteilen 公开/授权日:1995-05-10
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