Invention Grant
EP0318363B1 Procédé de test de cellules de mémoire électriquement programmable et circuit intégré correspondant
失效
用于测试电可编程存储器和相应集成电路的电池的方法
- Patent Title: Procédé de test de cellules de mémoire électriquement programmable et circuit intégré correspondant
- Patent Title (English): Method for testing cells of electrically programmable memories and a corresponding integrated circuit
- Patent Title (中): 用于测试电可编程存储器和相应集成电路的电池的方法
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Application No.: EP88402905.9Application Date: 1988-11-18
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Publication No.: EP0318363B1Publication Date: 1992-07-08
- Inventor: Devin, Jean
- Applicant: SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.A.
- Applicant Address: 7, Avenue Galliéni 94250 Gentilly FR
- Assignee: SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.A.
- Current Assignee: SGS-THOMSON MICROELECTRONICS S.A.
- Current Assignee Address: 7, Avenue Galliéni 94250 Gentilly FR
- Agency: Ballot, Paul Denis Jacques
- Priority: FR8716236 19871124
- Main IPC: G11C29/00
- IPC: G11C29/00
Public/Granted literature
- EP0318363A1 Procédé de test de cellules de mémoire électriquement programmable et circuit intégré correspondant Public/Granted day:1989-05-31
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