发明公开
- 专利标题: Messschaltung zur Phasenmessung gepulster Hochfrequenzsignale
- 专利标题(英): Measuring circuit for phasemeasuring of pulsed high frequency signals
- 专利标题(中): 测量用于脉冲的高频信号的相位测量电路。
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申请号: EP89100559.7申请日: 1989-01-13
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公开(公告)号: EP0325173A2公开(公告)日: 1989-07-26
- 发明人: Peters, Jens , Becker, Ludwig
- 申请人: Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY
- 申请人地址: Notkestrasse 85 D-22607 Hamburg DE
- 专利权人: Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY
- 当前专利权人: Deutsches Elektronen-Synchrotron DESY
- 当前专利权人地址: Notkestrasse 85 D-22607 Hamburg DE
- 代理机构: UEXKÜLL & STOLBERG
- 优先权: DE3801154 19880116
- 主分类号: G01R25/00
- IPC分类号: G01R25/00 ; H05H13/04
摘要:
Eine Meßschaltung zur Phasenmessung gepulster Hochfrequenz-Signale besitzt einen Phasendetektor (2), der einen Meßsignaleingang (1) und einen Referenzsignaleingang (3) aufweist und der aus der Phasendifferenz zwischen Meßsignal und Referenzsignal ein Phasendifferenzsignal erzeugt, das einer Sample & Hold-Schaltung (4) zugeführt wird, die daraus eine Gleichspannung erzeugt. Die Gleichspannung wird einem Phasenkorrekturspeicher (8) eingegeben, in dem eine Korrektur der Nichtlinearität des Phasendetektors erfolgt. An den Meßsignaleingang (i) und den Referenzsignaleingang (3) ist eine Amplitudengewinnungsschaltung (6) angeschlossen, die die Amplitude des Meßsignals und des Referenzsignals ermittelt. An den Ausgang der Amplitudengewinnungsschaltung (6) ist ein Amplitudenkompressionsspeicher (10) angeschlossen, der eine mit der Signalamplitude steuerbare Dichte der Kennlinienkorrekturen vornimmt. Die Ausgänge der Sample & Hold-Schaltung (4) und der Amplitudenkompressionsschaltung (10) steuern den Phasenkorrekturspeicher (8), der die Verzerrung der Phasenkennlinie korrigiert.
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