发明公开
- 专利标题： Détecteur de rayonnement
- 专利标题（英）： Radiation detector
- 专利标题（中）： 辐射探测器
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申请号： EP90400035.3申请日： 1990-01-05
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公开(公告)号： EP0378459A1公开(公告)日： 1990-07-18
- 发明人: Hartemann, Pierre
- 申请人： THOMSON-CSF
- 申请人地址： 173, Boulevard Haussmann 75008 Paris FR
- 专利权人： THOMSON-CSF
- 当前专利权人： THOMSON-CSF
- 当前专利权人地址： 173, Boulevard Haussmann 75008 Paris FR
- 代理机构： Grynwald, Albert
- 优先权： FR8900373 19890113
- 主分类号： G01J5/20
- IPC分类号： G01J5/20 ; H01L39/10
摘要：
L'invention concerne un détecteur de rayonnement comprenant un élément en matériau supraconducteur (1) alimenté par un générateur électrique (2) ainsi que des moyens pour mesurer la résistance de l'élément (1).
Par exemple, le générateur est une source de tension constante. Les moyens de mesure sont une résistance (3) placée en série avec l'élément supraconducteur (1) et un appareil de mesure de tension (4) connecté aux bornes de la résistance (3).
Un rayonnement F a pour effet de faire varier la résistance de l'élément supraconducteur (1). Par suite, de la valeur de la résistance de l'élément supraconducteur (1) on déduit l'intensité du rayonnement reçu.
APPLICATIONS : Détection des rayonnements situés entre les ondes visibles et les ondes millimétriques.
Par exemple, le générateur est une source de tension constante. Les moyens de mesure sont une résistance (3) placée en série avec l'élément supraconducteur (1) et un appareil de mesure de tension (4) connecté aux bornes de la résistance (3).
Un rayonnement F a pour effet de faire varier la résistance de l'élément supraconducteur (1). Par suite, de la valeur de la résistance de l'élément supraconducteur (1) on déduit l'intensité du rayonnement reçu.
APPLICATIONS : Détection des rayonnements situés entre les ondes visibles et les ondes millimétriques.
公开/授权文献
- EP0378459B1 Détecteur de rayonnement 公开/授权日：1994-03-16
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