发明公开
- 专利标题： Supraleitendes Gradiometer zur Messung schwacher Magnetfelder und ein Verfahren zu seiner Herstellung
- 专利标题（英）： Superconductive gradiometer for weak magnetic-field measurement, and method of producing same
- 专利标题（中）： 用于弱磁场测量的超级梯度计及其生产方法
-
申请号： EP90200460.5申请日： 1990-02-27
-
公开(公告)号： EP0386824A3公开(公告)日： 1991-10-16
- 发明人: Dössel, Olaf, Dr. , Edeler, Wilfried
- 申请人： Philips Patentverwaltung GmbH , Philips Electronics N.V.
- 申请人地址： Röntgenstrasse 24 22335 Hamburg DE
- 专利权人： Philips Patentverwaltung GmbH,Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人： Philips Patentverwaltung GmbH,Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人地址： Röntgenstrasse 24 22335 Hamburg DE
- 代理机构： Kupfermann, Fritz-Joachim, Dipl.-Ing.
- 优先权： DE3906981 19890304
- 主分类号： G01R33/022
- IPC分类号： G01R33/022
摘要：
Die Erfindung betrifft ein supraleitendes Gradiometer zur Messung schwacher Magnetfelder für eine Meßvorrichtung mit einem SQUID (Superconducting Quantum Interference Devices) einer Gradiometerspule, einer Einkoppelspule, einem Kryosystem und einer Auswertevorrichtung, bei der mit Hilfe des Gradiometers der wohl definierte Gradient eines zu messenden Magnetfeldes erfaßt wird, um ihn mit Hilfe der Einkoppelspule in das SQUID zu transformieren, wobei die Spule des Gradiometers aus supraleitendem Draht (15) um einen Trägerkörper (10) herum mit mindestens einer Drahtwindung (16) in in diesen Trägerkörper (10) geschnittenen Nuten (11, 12) angeordnet ist und die Nuten (11, 12) mit einem supraleitenden Dünnfilm (13) beschichtet sind und der Dünnfilm (13) in umlaufenden Nuten (11) unterbrochen ist, ferner um ein Verfahren zur Herstellung eines vorgenannten supraleitenden Gradiometers.
公开/授权文献
信息查询
