发明授权
- 专利标题： Method of inspection of products and apparatus therefor
- 专利标题（中）： 监控产品及相关设备的方法
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申请号： EP90115181.1申请日： 1990-08-07
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公开(公告)号： EP0412513B1公开(公告)日： 1996-06-05
- 发明人: Matsuzaki, Mikio
- 申请人： AKEBONO BRAKE INDUSTRY CO., LTD. , AKEBONO RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE LTD.
- 申请人地址： 19-5, Koami-cho, Nihonbashi Chuo-ku Tokyo JP
- 专利权人： AKEBONO BRAKE INDUSTRY CO., LTD.,AKEBONO RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE LTD.
- 当前专利权人： AKEBONO BRAKE INDUSTRY CO., LTD.,AKEBONO RESEARCH AND DEVELOPMENT CENTRE LTD.
- 当前专利权人地址： 19-5, Koami-cho, Nihonbashi Chuo-ku Tokyo JP
- 代理机构： Henkel, Feiler, Hänzel & Partner
- 优先权： JP203973/89 19890808
- 主分类号： G01N3/30
- IPC分类号： G01N3/30
公开/授权文献
- EP0412513A3 Method of inspection of products and apparatus therefor 公开/授权日：1991-07-17
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