发明授权
- 专利标题： Scanning densitometer
- 专利标题（中）： 扫描密度。
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申请号： EP91105294.2申请日： 1991-04-03
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公开(公告)号： EP0453830B1公开(公告)日： 1995-09-06
- 发明人: Bowden, David R. , Zandstra, Lawrence D. , Ouwinga, Ross A.
- 申请人： X-RITE, INC.
- 申请人地址： 3100 - 44th Street, S.W. Grandville, MI 49418 US
- 专利权人： X-RITE, INC.
- 当前专利权人： X-RITE, INC.
- 当前专利权人地址： 3100 - 44th Street, S.W. Grandville, MI 49418 US
- 代理机构： Schaumburg, Thoenes & Thurn
- 优先权： US512856 19900423
- 主分类号： G01J3/51
- IPC分类号： G01J3/51 ; B41F33/00 ; G01N21/59 ; G01N21/17
公开/授权文献
- EP0453830A3 Scanning densitometer 公开/授权日：1992-09-02
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