发明授权
- 专利标题： Identification of pin-open faults by capacitive coupling
- 专利标题（中）： 通过电容耦合开放端口的错误标识
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申请号： EP93300832.8申请日： 1993-02-04
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公开(公告)号： EP0560484B1公开(公告)日： 2000-10-18
- 发明人: Keirn, Kevin W. , Crook, David T.
- 申请人： Hewlett-Packard Company
- 申请人地址： 3000 Hanover Street Palo Alto, California 94304 US
- 专利权人： Hewlett-Packard Company
- 当前专利权人： Hewlett-Packard Company
- 当前专利权人地址： 3000 Hanover Street Palo Alto, California 94304 US
- 代理机构： Williams, John Francis
- 优先权： US848909 19920310
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G01R31/312 ; G01R31/316
公开/授权文献
- EP0560484A3 Identification of pin-open faults by capacitive coupling 公开/授权日：1994-06-08
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