发明授权
- 专利标题： Système de caractérisation de sources de signaux
- 专利标题（英）： System for characterization of signal sources
- 专利标题（中）： 信号源表征系统
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申请号： EP95200554.4申请日： 1995-03-07
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公开(公告)号： EP0673113B1公开(公告)日： 1999-08-25
- 发明人: Deville, Yannick
- 申请人： LABORATOIRES D'ELECTRONIQUE PHILIPS S.A.S. , Koninklijke Philips Electronics N.V.
- 申请人地址： 22, Avenue Descartes 94450 Limeil-Brévannes FR
- 专利权人： LABORATOIRES D'ELECTRONIQUE PHILIPS S.A.S.,Koninklijke Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人： LABORATOIRES D'ELECTRONIQUE PHILIPS S.A.S.,Koninklijke Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人地址： 22, Avenue Descartes 94450 Limeil-Brévannes FR
- 代理机构： Landousy, Christian
- 优先权： FR9403078 19940316
- 主分类号： H03G3/32
- IPC分类号： H03G3/32 ; G06F15/80
公开/授权文献
- EP0673113A1 Système de caractérisation de sources de signaux 公开/授权日：1995-09-20
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