发明公开
EP0842637A1 Verfahren zur Steuerung eines koppelstangenlosen Tomographiegerätes
失效
Verfahren zur Steuerung eines koppelstangenlosenTomographiegerätes
- 专利标题： Verfahren zur Steuerung eines koppelstangenlosen Tomographiegerätes
- 专利标题（英）： Control method for tomography apparatus without a coupling rod
- 专利标题（中）： Verfahren zur Steuerung eines koppelstangenlosenTomographiegerätes
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申请号： EP97203431.8申请日： 1997-11-05
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公开(公告)号： EP0842637A1公开(公告)日： 1998-05-20
- 发明人: Biermann, Peter , Pfeiffer, Wilfried
- 申请人： Philips Patentverwaltung GmbH , Philips Electronics N.V.
- 申请人地址： Röntgenstrasse 24 22335 Hamburg DE
- 专利权人： Philips Patentverwaltung GmbH,Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人： Philips Patentverwaltung GmbH,Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人地址： Röntgenstrasse 24 22335 Hamburg DE
- 代理机构： Hartmann, Heinrich, Dipl.-Ing.
- 优先权： DE19647243 19961115
- 主分类号： A61B6/08
- IPC分类号： A61B6/08
摘要：
Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Steuerung der Bewegungen eines Strahlers (24) und eines Strahlendetektors, z.B. einer Filmkassette (25), in bezug auf eine eingestellte Schichtlage, z.B. Schichthöhe (19), bei einem koppelstangenlosen Tomographiegerät mit einem Tisch (10) zur Aufnahme eines zu tomographierenden Organs (18). Zur Vereinfachung eines derartigen Verfahrens wird gemäß der Erfindung vorgeschlagen,
daß ein am Tisch (10) verstellbar angeordneter Lichtzeiger (17) auf die zu tomographierende Schicht des Organs (18) eingestellt wird,
daß die eingestellte Schichtlage gemessen wird,
daß die gemessenen Daten über die Schichtlage in eine Systemsteuereinheit (22) eingegeben werden und
daß der Strahler (24) und der Strahlendetektor (25) in Abhängigkeit von den eingegebenen Daten auf die gemessene Schichtlage (19) eingestellt werden.
daß ein am Tisch (10) verstellbar angeordneter Lichtzeiger (17) auf die zu tomographierende Schicht des Organs (18) eingestellt wird,
daß die eingestellte Schichtlage gemessen wird,
daß die gemessenen Daten über die Schichtlage in eine Systemsteuereinheit (22) eingegeben werden und
daß der Strahler (24) und der Strahlendetektor (25) in Abhängigkeit von den eingegebenen Daten auf die gemessene Schichtlage (19) eingestellt werden.
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