发明公开
EP1114294A1 MESSSYSTEM FÜR DIE OBERFLÄCHENGEOMETRIE UND PLANHEIT VON FLACHPRODUKTEN
有权
一种用于测量移动的金属带材的几何形状和平坦度的方法
- 专利标题： MESSSYSTEM FÜR DIE OBERFLÄCHENGEOMETRIE UND PLANHEIT VON FLACHPRODUKTEN
- 专利标题（英）： System for measuring the surface geometry and surface evenness of flat products
- 专利标题（中）： 一种用于测量移动的金属带材的几何形状和平坦度的方法
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申请号： EP99947285.5申请日： 1999-09-07
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公开(公告)号： EP1114294A1公开(公告)日： 2001-07-11
- 发明人: MÜLLER, Ulrich , SONNENSCHEIN, Detlef , WINTER, Detlef , PEUKER, Gustav , STOCKMEYER, Rudolf
- 申请人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh,INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH
- 申请人地址： Sohnstrasse 65 D-40237 Düsseldorf DE
- 专利权人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh,INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH
- 当前专利权人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh,INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH
- 当前专利权人地址： Sohnstrasse 65 D-40237 Düsseldorf DE
- 代理机构： König, Gregor Sebastian
- 优先权： DE19842138 19980914
- 国际公布： WO0016040 20000323
- 主分类号： G01B11/30
- IPC分类号： G01B11/30 ; G01B11/24
摘要：
The invention relates to a device for producing a pattern on a surface for measuring, using a projector and a slide. The invention also relates to various advantageous embodiments of the measuring system.
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