发明公开
EP1217387A2 Szintillationsdetektor für elektromagnetische Strahlung
审中-公开
Strahlung的Szintillationsdetektorfürelektromagnetische
- 专利标题： Szintillationsdetektor für elektromagnetische Strahlung
- 专利标题（英）： Scintillation detector for electromagnetic radiation
- 专利标题（中）： Strahlung的Szintillationsdetektorfürelektromagnetische
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申请号： EP01000770.6申请日： 2001-12-19
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公开(公告)号： EP1217387A2公开(公告)日： 2002-06-26
- 发明人: Dorscheid, Ralf , Grätz, Petra
- 申请人： Philips Corporate Intellectual Property GmbH , Koninklijke Philips Electronics N.V.
- 申请人地址： Weisshausstrasse 2 52066 Aachen DE
- 专利权人： Philips Corporate Intellectual Property GmbH,Koninklijke Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人： Philips Corporate Intellectual Property GmbH,Koninklijke Philips Electronics N.V.
- 当前专利权人地址： Weisshausstrasse 2 52066 Aachen DE
- 代理机构： Volmer, Georg, Dipl.-Ing.
- 优先权： DE10063907 20001221
- 主分类号： G01T1/00
- IPC分类号： G01T1/00
摘要：
Die Erfindung betrifft einen Detektor zum Detektieren von elektromagnetischer Strahlung mit zumindest einem Szintillator (6), zumindest einem CMOS - Chip (3) und einem keramischen Basiselement (4), wobei jeweils zwischen dem Szintillator (6) und dem CMOS - Chip (3) bzw. zwischen dem CMOS - Chip (3) und dem keramischen Basiselement (4) eine blasenfreie und bezüglich ihrer Spaltbreite definierte Zwischenschicht (2) angeordnet ist und diese Zwischenschicht (2) zumindest zwei Klebstoffe (A, B) mit unterschiedlicher Konsistenz und Abstandhalter (5) enthält.
公开/授权文献
- EP1217387A3 Szintillationsdetektor für elektromagnetische Strahlung 公开/授权日：2006-11-15
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