发明授权
- 专利标题： Inspection probe and system comprising a pulsed eddy current two-dimensional sensor array
- 专利标题（中）： 和测试探头系统与脉冲涡流二维传感器阵列
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申请号： EP02254028.0申请日： 2002-06-10
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公开(公告)号： EP1267161B1公开(公告)日： 2006-12-13
- 发明人: Plotnikov, Yuri Alexeyevich , Nath, Shridhar Champaknath , Rose, Curtis Wayne , Batzinger, Thomas James , Herd, Kenneth Gordon
- 申请人： GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 申请人地址： 1 River Road Schenectady, NY 12345 US
- 专利权人： GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 当前专利权人： GENERAL ELECTRIC COMPANY
- 当前专利权人地址： 1 River Road Schenectady, NY 12345 US
- 代理机构： Goode, Ian Roy
- 优先权： US681824 20010612
- 主分类号： G01N27/90
- IPC分类号： G01N27/90
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