发明授权
- 专利标题： Multi-path interference light measuring method and apparatus
- 专利标题（中）： 用于测量多径的方法和设备 - 光干涉
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申请号： EP03001356.9申请日： 2003-01-24
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公开(公告)号： EP1351046B1公开(公告)日： 2012-05-02
- 发明人: Muro, Shinichirou , Sugaya, Yasushi
- 申请人： FUJITSU LIMITED
- 申请人地址： 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku Kawasaki-shi, Kanagawa 211-8588 JP
- 专利权人： FUJITSU LIMITED
- 当前专利权人： FUJITSU LIMITED
- 当前专利权人地址： 1-1, Kamikodanaka 4-chome, Nakahara-ku Kawasaki-shi, Kanagawa 211-8588 JP
- 代理机构： HOFFMANN EITLE
- 优先权： JP2002059777 20020306
- 主分类号： G01M11/00
- IPC分类号： G01M11/00 ; H04B10/08
公开/授权文献
- EP1351046A3 Multi-path interference light measuring method and apparatus 公开/授权日：2004-12-01
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