- 专利标题: Elektrooptisches para-axiales Distanzmesssystem
- 专利标题(英): Electrooptical and axial parallel distance measuring system
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申请号: EP02405206.0申请日: 2002-03-18
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公开(公告)号: EP1351070A1公开(公告)日: 2003-10-08
- 发明人: Gogolla, Torsten , Winter, Andreas , Seifert, Helmut , Penzold, Martin , Schusser, Gero , Schmidt, Dieter
- 申请人: HILTI Aktiengesellschaft , JENOPTIK Laser, Optik, Systeme GmbH
- 申请人地址: Feldkircherstrasse 100, Postfach 333 9494 Schaan LI
- 专利权人: HILTI Aktiengesellschaft,JENOPTIK Laser, Optik, Systeme GmbH
- 当前专利权人: HILTI Aktiengesellschaft,JENOPTIK Laser, Optik, Systeme GmbH
- 当前专利权人地址: Feldkircherstrasse 100, Postfach 333 9494 Schaan LI
- 主分类号: G01S17/10
- IPC分类号: G01S17/10 ; G01S7/481 ; G01S7/487 ; G01S7/497
摘要:
Ein elektrooptisches Distanzmesssystem (1, 1') für grosse Messbereiche mit einer paraaxialen Anordnung einer Strahlquelle (2) mit einer zugeordneten Sendeoptik (3) sowie eines, als zumindest eine kleinflächige Fotodiode (4) ausgebildeten, Strahlempfängers mit einer zugeordneten Empfangsoptik (5), die Massnahmen zur Signalanhebung für den unteren Distanzmessbereich für Distanzen (X) enthält, wobei die Strahlquelle (2), die Sendeoptik (3), die kleinflächige Fotodiode (4) und die Empfangsoptik (5) mit ihren optischen Achsen jeweils parallel zu dem Messlichtstrahl (6) orientiert sind und der Messlichtstrahl (6) direkt von der Sendeoptik (2) zum Messobjekt und weiter zur Empfangsoptik gelangt und dass die Strahlquelle (2) und die kleinflächige Fotodiode (4) miteinander mechanisch starr über zumindest eine in sich steif verbundene Leiterträgerplatine (8, 8a, 8b) verbunden sind, indem zumindest die kleinflächige Fotodiode (4) elektrisch leitend sowie temporär in der Position (9, 9') justierbar zumindest über ihre elektrischen Kontakte (10) direkt an der justierten Position (9, 9') auf der Leiterträgerplatine (8, 8a, 8b) fixiert ist. Zudem wird ein zugeordnetes Justageverfahren vorgestellt.
公开/授权文献
- EP1351070B1 Elektrooptisches para-axiales Distanzmesssystem 公开/授权日:2009-01-14
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