发明公开
- 专利标题： Planheits-Messsystem für Metallband
- 专利标题（英）： Flatness measuring system for a metal sheet
- 专利标题（中）： 对于金属带材平直度测量系统
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申请号： EP04002747.6申请日： 1998-03-05
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公开(公告)号： EP1418400A3公开(公告)日： 2004-08-04
- 发明人: Müller, Ulrich , Peuker, Gustav , Sonnenschein, Detlev , Winter, Detlef , Degner, Michael , Thiemann, Gerd
- 申请人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh, INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH , GOM - Gesellschaft für Optische Messtechnik mbH , KRUPP HOESCH STAHL AG
- 申请人地址： Sohnstrasse 65 D-40237 Düsseldorf DE
- 专利权人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh, INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH,GOM - Gesellschaft für Optische Messtechnik mbH,KRUPP HOESCH STAHL AG
- 当前专利权人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh, INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH,GOM - Gesellschaft für Optische Messtechnik mbH,KRUPP HOESCH STAHL AG
- 当前专利权人地址： Sohnstrasse 65 D-40237 Düsseldorf DE
- 代理机构： König, Gregor Sebastian, Dipl.-Biol.
- 优先权： DE19709992 19970311
- 主分类号： G01B11/30
- IPC分类号： G01B11/30 ; G01B11/24 ; B21B38/02 ; G01B11/25
摘要：
Die Erfindung betrifft ein Planheitsmeß- und Regelungssystem für Metallband, das eine Verbesserung der Bandoder Coilqualität durch ein einfaches und effektives Erfassen von Planheitsabweichungen und ein Regeln der Fertigungsparameter über die Verwertung eines Linienmusters auf der Bandoberfläche oder der Stirnfläche eines Coils beim Haspeln erlaubt.
公开/授权文献
- EP1418400B1 Walzstrasse 公开/授权日：2009-05-06
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