发明授权
- 专利标题： Separation analyser
- 专利标题（中）： 分离分析仪
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申请号： EP04004088.3申请日： 2004-02-23
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公开(公告)号： EP1457774B1公开(公告)日： 2010-09-15
- 发明人: Deguchi, Kisaburo , Ito, Shinya, Hitachi High-Technologies Corp. , Ito, Masahito, Hitachi High-Technologies Corp.
- 申请人： Hitachi High-Technologies Corporation
- 申请人地址： 24-14, Nishishimbashi 1-chome, Minato-ku Tokyo 105-8717 JP
- 专利权人： Hitachi High-Technologies Corporation
- 当前专利权人： Hitachi High-Technologies Corporation
- 当前专利权人地址： 24-14, Nishishimbashi 1-chome, Minato-ku Tokyo 105-8717 JP
- 代理机构： Strehl Schübel-Hopf & Partner
- 优先权： JP2003064319 20030311
- 主分类号： G01N30/20
- IPC分类号： G01N30/20
公开/授权文献
- EP1457774A1 Separation analyser 公开/授权日：2004-09-15
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