发明公开
- 专利标题： Anordnung zur Erfassung von lokal auftretenden Übertemperaturen
- 专利标题（英）： Device for detecting locally appearing overtemperatures
- 专利标题（中）： 布置用于检测局部出现超温的
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申请号： EP05003813.2申请日： 2005-02-23
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公开(公告)号： EP1577918A3公开(公告)日： 2007-08-01
- 发明人: Schneider, Hans , Reich, Franz
- 申请人： Schneider, Hans , Reich, Franz
- 申请人地址： Roggentalstrasse 23 73312 Geislingen-Eybach DE
- 专利权人： Schneider, Hans,Reich, Franz
- 当前专利权人： Schneider, Hans,Reich, Franz
- 当前专利权人地址： Roggentalstrasse 23 73312 Geislingen-Eybach DE
- 代理机构： Dziewior, Joachim
- 优先权： DE102004013805 20040320
- 主分类号： H01H37/00
- IPC分类号： H01H37/00 ; G08B17/06 ; H02H5/04
摘要：
Die Überwachungsvorrichtung dient zur Erfassung von lokal auftretenden Übertemperaturen. Sie ist von einer aus einer elektrischen Reihenschaltung von mehreren Bimetallschaltern (1) bestehenden Schalteranordnung gebildet, bei der die Bimetallschalter (1) unterhalb einer wählbar vorgebbaren, bauartbedingten Schalttemperatur geschlossen sind. Bei Überschreitung der Schalttemperatur schalten diese in den geöffneten Zustand um, wobei die Bimetallschalter (1) in linearer, flächenhafter oder auch räumlicher Form angeordnet sein können und in ihrer gegenseitigen Lage zueinander im wesentlichen fixiert sind.
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