发明授权
EP1766430B1 PRÜFVERFAHREN FÜR EIN VERFAHREN ZUR PASSIVEN GEWINNUNG VON ZIELPARAMETERN 有权
测试程序被动的方法获取的目标参数

  • 专利标题: PRÜFVERFAHREN FÜR EIN VERFAHREN ZUR PASSIVEN GEWINNUNG VON ZIELPARAMETERN
  • 专利标题(英): Testing method, and method for passively obtaining target parameters
  • 专利标题(中): 测试程序被动的方法获取的目标参数
  • 申请号: EP05739521.2
    申请日: 2005-04-27
  • 公开(公告)号: EP1766430B1
    公开(公告)日: 2010-10-13
  • 发明人: STEIMEL, Ulrich
  • 申请人: ATLAS ELEKTRONIK GMBH
  • 申请人地址: Sebaldsbrücker Heerstrasse 235 28305 Bremen DE
  • 专利权人: ATLAS ELEKTRONIK GMBH
  • 当前专利权人: ATLAS ELEKTRONIK GMBH
  • 当前专利权人地址: Sebaldsbrücker Heerstrasse 235 28305 Bremen DE
  • 代理机构: Wasiljeff, Johannes M.B.
  • 优先权: DE102004026304 20040528
  • 国际公布: WO2005119291 20051215
  • 主分类号: G01S5/18
  • IPC分类号: G01S5/18 G01S3/80 G01S5/00
PRÜFVERFAHREN FÜR EIN VERFAHREN ZUR PASSIVEN GEWINNUNG VON ZIELPARAMETERN
信息查询
0/0