发明授权
- 专利标题： In-situ crystalline material screening apparatus and method
- 专利标题（中）： 装置和方法用于原位结晶物质的筛选
-
申请号： EP06125816.6申请日： 2006-12-11
-
公开(公告)号： EP1798544B1公开(公告)日： 2010-04-21
- 发明人: Kucharczyk, Damian , Cooper, Richard , Loeffen, Paul William
- 申请人： Oxford Diffraction Limited
- 申请人地址： 68 Milton Park Abingdon, Oxfordshire OX14 4RX GB
- 专利权人： Oxford Diffraction Limited
- 当前专利权人： Oxford Diffraction Limited
- 当前专利权人地址： 68 Milton Park Abingdon, Oxfordshire OX14 4RX GB
- 代理机构： Finnie, Peter John
- 优先权： GB0525559 20051215
- 主分类号： G01N23/207
- IPC分类号： G01N23/207
公开/授权文献
- EP1798544A1 In-situ crystalline material screening apparatus and method 公开/授权日：2007-06-20
信息查询
