发明公开
EP1830171A4 DYNAMIC- MODE ATOMIC FORCE- MICROSCOPE PROBE(TIP) VIBRATION SIMULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND VIBRATION SIMULATOR
审中-公开
方法模拟振动AFM（原子力显微镜）的探针（NSPITZE）在动态模式下，程序记录介质和调制器振动（英文版）
- 专利标题： DYNAMIC- MODE ATOMIC FORCE- MICROSCOPE PROBE(TIP) VIBRATION SIMULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND VIBRATION SIMULATOR
- 专利标题（中）： 方法模拟振动AFM（原子力显微镜）的探针（NSPITZE）在动态模式下，程序记录介质和调制器振动（英文版）
-
申请号： EP05800470申请日： 2005-10-31
-
公开(公告)号： EP1830171A4公开(公告)日： 2012-03-07
- 发明人: SASAKI NARUO , TAKAHASHI TADATAKA
- 申请人： JAPAN SCIENCE & TECH AGENCY
- 专利权人： JAPAN SCIENCE & TECH AGENCY
- 当前专利权人： JAPAN SCIENCE & TECH AGENCY
- 优先权： JP2004321591 2004-11-05
- 主分类号： G01Q10/00
- IPC分类号： G01Q10/00 ; G01Q10/06 ; G01Q40/00 ; G01Q60/24 ; G01Q60/32
信息查询
