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发明授权
EP1953525B1 Particle analyzer and particle analyzing method 有权
粒子分析仪和粒子分析方法

  • 专利标题： Particle analyzer and particle analyzing method
  • 专利标题（中）： 粒子分析仪和粒子分析方法
  • 申请号： EP08001586.0
    申请日： 2008-01-29
  • 公开(公告)号： EP1953525B1
    公开(公告)日： 2016-12-14
  • 发明人: Narisada, Noriyuki
  • 申请人： SYSMEX CORPORATION
  • 申请人地址： 5-1, Wakinohama-Kaigandori 1-chome, Chuo-ku Kobe-shi, Hyogo 651-0073 JP
  • 专利权人： SYSMEX CORPORATION
  • 当前专利权人： SYSMEX CORPORATION
  • 当前专利权人地址： 5-1, Wakinohama-Kaigandori 1-chome, Chuo-ku Kobe-shi, Hyogo 651-0073 JP
  • 代理机构： Hoffmann Eitle
  • 优先权： JP2007022439 20070131
  • 主分类号： G01N15/12
  • IPC分类号： G01N15/12 ;  G01N15/14 ;  G01N35/00 ;  G01N33/49
Particle analyzer and particle analyzing method
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