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发明授权
EP1979953B1 SEMICONDUCTOR RADIATION DETECTOR OPTIMIZED FOR DETECTING VISIBLE LIGHT 有权
对于可见光优化半导体辐射检测器的检测

  • 专利标题： SEMICONDUCTOR RADIATION DETECTOR OPTIMIZED FOR DETECTING VISIBLE LIGHT
  • 专利标题（中）： 对于可见光优化半导体辐射检测器的检测
  • 申请号： EP06708917.7
    申请日： 2006-02-17
  • 公开(公告)号： EP1979953B1
    公开(公告)日： 2015-08-19
  • 发明人: Aurola, Artto
  • 申请人： Aurola, Artto
  • 申请人地址： Otakallio 1 A 7 02150 Espoo FI
  • 专利权人： Aurola, Artto
  • 当前专利权人： Aurola, Artto
  • 当前专利权人地址： Otakallio 1 A 7 02150 Espoo FI
  • 代理机构： Berggren Oy Ab
  • 优先权： PCT/FI2006/000009 20060105
  • 国际公布： WO2007077287 20070712
  • 主分类号： H01L31/109
  • IPC分类号： H01L31/109 ;  H01L27/148 ;  H01L27/146
SEMICONDUCTOR RADIATION DETECTOR OPTIMIZED FOR DETECTING VISIBLE LIGHT
公开/授权文献
信息查询
Global Dossier Espacenet
IPC分类:
H 电学
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件（使用半导体器件的测量入G01；一般电阻器入H01C；磁体、电感器、变压器入H01F；一般电容器入H01G；电解型器件入H01G9/00；电池组、蓄电池入H01M；波导管、谐振器或波导型线路入H01P；线路连接器、汇流器入H01R；受激发射器件入H01S；机电谐振器入H03H；扬声器、送话器、留声机拾音器或类似的声机电传感器入H04R；一般电光源入H05B；印刷电路、混合电路、电设备的外壳或结构零部件、电气元件的组件的制造入H05K；在具有特殊应用的电路中使用的半导体器件见应用相关的小类）
H01L31/00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射，或微粒辐射敏感的，并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件；专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或设备；其零部件（H01L51/42优先；由形成在一共用衬底内或其上的多个固态组件，而不是辐射敏感元件与一个或多个电光源的结合所组成的器件入H01L27/00）
H01L31/08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的，例如光敏电阻器
H01L31/10 ..特点在于至少有一个电位跃变势垒或表面势垒的，例如光敏晶体管
H01L31/101 ...对红外、可见或紫外辐射敏感的器件
H01L31/102 ....仅以一个势垒或面垒为特征的
H01L31/109 .....为PN异质结型势垒的
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