发明授权
- 专利标题： PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE CARACTÉRISATION D'ÉLÉMENTS MICROSCOPIQUES
- 专利标题（英）： Method and device for characterizing microscopic elements
- 专利标题（中）： 方法和设备用于标记微观元素
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申请号： EP08869283.5申请日： 2008-10-10
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公开(公告)号： EP2198254B1公开(公告)日： 2017-03-08
- 发明人: BOUYGE, David , LESVIGNE-BUY, Christelle , COUDERC, Vincent , CRUNTEANU STANESCU, Aurélian , LEPROUX, Philippe , LEFORT, Laurent
- 申请人： Centre National de la Recherche Scientifique (C.N.R.S.) , Université de Limoges
- 申请人地址： 3 rue Michel Ange 75794 Paris Cedex 16 FR
- 专利权人： Centre National de la Recherche Scientifique (C.N.R.S.),Université de Limoges
- 当前专利权人： Centre National de la Recherche Scientifique (C.N.R.S.),Université de Limoges
- 当前专利权人地址： 3 rue Michel Ange 75794 Paris Cedex 16 FR
- 代理机构： Novagraaf Technologies
- 优先权： FR0707098 20071010
- 国际公布： WO2009087287 20090716
- 主分类号： G01J3/44
- IPC分类号： G01J3/44 ; G01N21/64 ; G01N15/14
公开/授权文献
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