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EP2249311B1 Systems and methods for extracting planar features, matching the planar features, and estimating motion from the planar features 有权
对的平面特征提取系统和方法调整的平面特征的移动的平面性和评价

  • 专利标题： Systems and methods for extracting planar features, matching the planar features, and estimating motion from the planar features
  • 专利标题（中）： 对的平面特征提取系统和方法调整的平面特征的移动的平面性和评价
  • 申请号： EP10161058.2
    申请日： 2010-04-26
  • 公开(公告)号： EP2249311B1
    公开(公告)日： 2013-07-03
  • 发明人: Lukas, Jan , Kotaba, Ondrei
  • 申请人： Honeywell International Inc.
  • 申请人地址： 101 Columbia Road Morristown, NJ 07962 US
  • 专利权人： Honeywell International Inc.
  • 当前专利权人： Honeywell International Inc.
  • 当前专利权人地址： 101 Columbia Road Morristown, NJ 07962 US
  • 代理机构： Buckley, Guy Julian
  • 优先权： US436224 20090506
  • 主分类号： G06T7/20
  • IPC分类号： G06T7/20
Systems and methods for extracting planar features, matching the planar features, and estimating motion from the planar features
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