Die Erfindung betrifft ein Verfahren sowie eine entsprechende Vorrichtung zum Auslesen und Löschen von in Speicherleuchtstoffschichten gespeicherten Röntgeninformationen mit folgenden Schritten: Bestrahlen der Speicherleuchtstoffschicht (1) mit Stimulationslicht (3), durch welches die Speicherleuchtstoffschicht (1) zur Emission von Emissionslicht angeregt wird, Erfassen des an unterschiedlichen Orten (x, y) der Speicherleuchtstoffschicht (1) emittierten Emissionslichts mit einem Detektor (7), wobei Detektorsignalwerte (D(x, y)) für unterschiedliche Orte (x, y) der Speicherleuchtstoffschicht (1) erhalten werden, und Bestrahlen der Speicherleuchtstoffschicht (1) mit Löschlicht (21), wobei die Menge des Löschlichts (21) anhand der Detektorsignalwerte (D(x, y)) ermittelt wird.
Bei der Ermittlung der Menge des Löschlichts (21), welche einerseits ausreichend groß ist, um ein vollständiges Löschen der Speicherleuchtstoffschicht (1) zu gewährleisten, und andererseits möglichst niedrig ist, um eine unnötig hohe Wärmeentwicklung zu vermeiden und einen hohen Durchsatz zu gewährleisten, werden die für unterschiedliche Orte (x, y) in einer ersten und zweiten Dimension (x bzw. y) der Speicherleuchtstoffschicht (1) erhaltenen Detektorsignalwerte (D(x, y)) mit für unterschiedliche Orte (x) in nur einer Dimension (x) der Speicherleuchtstoffschicht (1) vorgegebenen Vergleichssignalwerten (H(x), H'(x)) verglichen.