发明授权
EP2294442B1 VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM PASSIVEN BESTIMMEN VON ZIELPARAMETERN 有权
方法和设备的目标参数被动测定

  • 专利标题: VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM PASSIVEN BESTIMMEN VON ZIELPARAMETERN
  • 专利标题(英): Method and apparatus for passive determination of target parameters
  • 专利标题(中): 方法和设备的目标参数被动测定
  • 申请号: EP09769186.9
    申请日: 2009-06-19
  • 公开(公告)号: EP2294442B1
    公开(公告)日: 2013-01-23
  • 发明人: STEINER, Hans-JoachimSTEIMEL, Ulrich
  • 申请人: ATLAS Elektronik GmbH
  • 申请人地址: Sebaldsbrücker Heerstrasse 235 28309 Bremen DE
  • 专利权人: ATLAS Elektronik GmbH
  • 当前专利权人: ATLAS Elektronik GmbH
  • 当前专利权人地址: Sebaldsbrücker Heerstrasse 235 28309 Bremen DE
  • 代理机构: Wasiljeff, Johannes M.B.
  • 优先权: DE102008030053 20080625
  • 国际公布: WO2009156337 20091230
  • 主分类号: G01S3/808
  • IPC分类号: G01S3/808 G01S5/20 G01S11/14
VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUM PASSIVEN BESTIMMEN VON ZIELPARAMETERN
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