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发明授权
EP2352017B1 Verfahren zum Testen einer kapazitiven Messvorrichtung 有权
测试电容式测量装置的制造方法

  • 专利标题： Verfahren zum Testen einer kapazitiven Messvorrichtung
  • 专利标题（英）： Method for testing a capacitive measuring device
  • 专利标题（中）： 测试电容式测量装置的制造方法
  • 申请号： EP11000172.4
    申请日： 2009-10-12
  • 公开(公告)号： EP2352017B1
    公开(公告)日： 2013-07-31
  • 发明人: Gehrig, Reto
  • 申请人： Uster Technologies AG
  • 申请人地址： Sonnenbergstrasse 10 8610 Uster CH
  • 专利权人： Uster Technologies AG
  • 当前专利权人： Uster Technologies AG
  • 当前专利权人地址： Sonnenbergstrasse 10 8610 Uster CH
  • 优先权： CH16462008 20081016
  • 主分类号： G01N27/22
  • IPC分类号： G01N27/22 ;  G01N33/36 ;  G01R27/26
Verfahren zum Testen einer kapazitiven Messvorrichtung
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