发明授权
- 专利标题： Method for mura effect level measurement of a display
- 专利标题（中）： 用于测量显示器的波纹效应的方法高度
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申请号： EP11156612.1申请日： 2011-03-02
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公开(公告)号： EP2372650B1公开(公告)日： 2017-04-05
- 发明人: Gucbilmez, Alp , Karsli, Kivanc
- 申请人： Vestel Elektronik Sanayi ve Ticaret A.S.
- 申请人地址： Organize Sanayi Bölgesi 45030 Manisa TR
- 专利权人： Vestel Elektronik Sanayi ve Ticaret A.S.
- 当前专利权人： Vestel Elektronik Sanayi ve Ticaret A.S.
- 当前专利权人地址： Organize Sanayi Bölgesi 45030 Manisa TR
- 代理机构： Cayli, Hülya
- 优先权： TR201001661 20100304
- 主分类号： G06T7/00
- IPC分类号： G06T7/00 ; G01N21/956
公开/授权文献
- EP2372650A1 Method for mura effect level measurement of a display 公开/授权日：2011-10-05
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