- 专利标题： Hochspannungseinrichtung und Verfahren zum Monitoring von Alterungsprozessen einer Isolierung in einer Hochspannungseinrichtung
- 专利标题（英）： High voltage device and method for monitoring degradation of insulation in a high voltage device
-
申请号： EP11192353.8申请日： 2011-12-07
-
公开(公告)号： EP2472688B1公开(公告)日： 2019-07-31
- 发明人: Habel, Wolfgang , Heidmann, Gerd
- 申请人： BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung , IPH Institut "Prüffeld für elektrische Hochleistungstechnik" GmbH
- 申请人地址： Unter den Eichen 87 12205 Berlin DE
- 专利权人： BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung,IPH Institut "Prüffeld für elektrische Hochleistungstechnik" GmbH
- 当前专利权人： BAM Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung,IPH Institut "Prüffeld für elektrische Hochleistungstechnik" GmbH
- 当前专利权人地址： Unter den Eichen 87 12205 Berlin DE
- 代理机构： Zimmermann & Partner Patentanwälte mbB
- 优先权： DE102010061607 20101228
- 主分类号： G01D5/26
- IPC分类号： G01D5/26 ; G01R31/12 ; G01D5/353 ; H02G15/068 ; H02G15/105 ; H02G1/00
公开/授权文献
信息查询
