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EP2526433B1 CIRCUIT INTEGRE EN SILICIUM COMPORTANT UNE FONCTION PHYSIQUEMENT NON COPIABLE, PROCEDE ET SYSTEME DE TEST D'UN TEL CIRCUIT 有权
但测试这种电路的物理不可复制的作用与方法和系统集成硅电路

  • 专利标题： CIRCUIT INTEGRE EN SILICIUM COMPORTANT UNE FONCTION PHYSIQUEMENT NON COPIABLE, PROCEDE ET SYSTEME DE TEST D'UN TEL CIRCUIT
  • 专利标题（英）： Integrated silicon circuit comprising a physically non-reproducible function, and method and system for testing such a circuit
  • 专利标题（中）： 但测试这种电路的物理不可复制的作用与方法和系统集成硅电路
  • 申请号： EP11700335.0
    申请日： 2011-01-10
  • 公开(公告)号： EP2526433B1
    公开(公告)日： 2014-06-25
  • 发明人: DANGER, Jean-Luc
  • 申请人： Institut Telecom - Telecom Paris Tech
  • 申请人地址： 46, Rue Barrault 75013 Paris FR
  • 专利权人： Institut Telecom - Telecom Paris Tech
  • 当前专利权人： Institut Telecom - Telecom Paris Tech
  • 当前专利权人地址： 46, Rue Barrault 75013 Paris FR
  • 代理机构： Esselin, Sophie
  • 优先权： FR1050297 20100118
  • 国际公布： WO2011086051 20110721
  • 主分类号： G01R31/317
  • IPC分类号： G01R31/317 ;  G06F21/00
CIRCUIT INTEGRE EN SILICIUM COMPORTANT UNE FONCTION PHYSIQUEMENT NON COPIABLE, PROCEDE ET SYSTEME DE TEST D'UN TEL CIRCUIT
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