发明授权
- 专利标题： METHOD FOR THE EVALUATION OF THE QUALITY OF A TEST ELEMENT
- 专利标题（中）： 程序用于评估测试元件的质量
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申请号： EP13701570.7申请日： 2013-01-23
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公开(公告)号： EP2807270B1公开(公告)日： 2016-04-06
- 发明人: HAAR, Hans-Peter , HOENES, Joachim , HORN, Carina , PETRICH, Wolfgang , FREIFRAU VON KETTELER, Alexa
- 申请人： Roche Diagnostics GmbH , F.Hoffmann-La Roche AG
- 申请人地址： Sandhofer Strasse 116 68305 Mannheim DE
- 专利权人： Roche Diagnostics GmbH,F.Hoffmann-La Roche AG
- 当前专利权人： Roche Diagnostics GmbH,F.Hoffmann-La Roche AG
- 当前专利权人地址： Sandhofer Strasse 116 68305 Mannheim DE
- 代理机构： Poredda, Andreas
- 优先权： EP12000479 20120125
- 国际公布： WO2013110453 20130801
- 主分类号： G01N33/573
- IPC分类号： G01N33/573 ; C12Q1/54
公开/授权文献
- EP2807270A1 METHOD FOR THE EVALUATION OF THE QUALITY OF A TEST ELEMENT 公开/授权日：2014-12-03
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