发明授权
- 专利标题： CALIBRATION OF MULTIPLE APERTURE ULTRASOUND PROBES
- 专利标题（中）： 多孔径超声探头的校准
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申请号： EP13827256.2申请日： 2013-08-12
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公开(公告)号： EP2883079B1公开(公告)日： 2017-09-27
- 发明人: CALL, Josef, R. , OSBORN, Nathan, W. , BELEVICH, Artem , RITZI, Bruce, R.
- 申请人： Maui Imaging, Inc.
- 申请人地址： 256 Gibraltar Drive, Suite 107 Sunnyvale, CA 94089 US
- 专利权人： Maui Imaging, Inc.
- 当前专利权人： Maui Imaging, Inc.
- 当前专利权人地址： 256 Gibraltar Drive, Suite 107 Sunnyvale, CA 94089 US
- 代理机构： Potter Clarkson LLP
- 优先权： US201261681986P 20120810
- 国际公布： WO2014026185 20140213
- 主分类号： G01S15/89
- IPC分类号： G01S15/89 ; G01S15/02 ; A61B8/00
公开/授权文献
- EP2883079A1 CALIBRATION OF MULTIPLE APERTURE ULTRASOUND PROBES 公开/授权日：2015-06-17
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