Invention Grant
- Patent Title: DISPOSITIF DE MESURE DE L'ETAT DE SURFACE D'UNE SURFACE
- Patent Title (English): Device for measuring the surface roughness of a surface
- Patent Title (中): 设备技术测量表面粗糙度的表面
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Application No.: EP14703322.9Application Date: 2014-02-04
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Publication No.: EP2954284B1Publication Date: 2017-03-15
- Inventor: GIRARD, Claude
- Applicant: Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives
- Applicant Address: 25, Rue Leblanc Bâtiment "Le Ponant D" 75015 Paris FR
- Assignee: Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives
- Current Assignee: Commissariat à l'Énergie Atomique et aux Énergies Alternatives
- Current Assignee Address: 25, Rue Leblanc Bâtiment "Le Ponant D" 75015 Paris FR
- Agency: Brevalex
- Priority: FR1351064 20130207
- International Announcement: WO2014122107 20140814
- Main IPC: G01B5/28
- IPC: G01B5/28 ; G01B7/34 ; G01B11/30 ; G01B21/30 ; G01N21/954
Public/Granted literature
- EP2954284A1 DISPOSITIF DE MESURE DE L'ETAT DE SURFACE D'UNE SURFACE Public/Granted day:2015-12-16
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