发明公开
- 专利标题： DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE LA RÉFRACTION SUBJECTIVE
- 专利标题（英）： Device and method for measuring subjective refraction
- 专利标题（中）： 设备和方法测量主观验光
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申请号： EP14827839.3申请日： 2014-12-15
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公开(公告)号： EP3082567A1公开(公告)日： 2016-10-26
- 发明人: ROUSSEAU, Benjamin , HERNANDEZ, Martha , BARANTON, Konogan , OURIVES, Pedro , MARIN, Gildas
- 申请人： Essilor International (Compagnie Générale d'Optique)
- 申请人地址： 147, rue de Paris 94220 Charenton Le Pont FR
- 专利权人： Essilor International (Compagnie Générale d'Optique)
- 当前专利权人： Essilor International (Compagnie Générale d'Optique)
- 当前专利权人地址： 147, rue de Paris 94220 Charenton Le Pont FR
- 代理机构： Godard, Evelin
- 优先权： FR1362834 20131217
- 国际公布： WO2015092244 20150625
- 主分类号： A61B3/103
- IPC分类号： A61B3/103 ; A61B3/00 ; A61B3/032
摘要：
The invention relates to a device for measuring the subjective refraction of a person in near and/or medium vision, which comprises, according to the invention, for each eye of the person, a correction mounting (3) provided with at least one corrective lens, the correction mountings (3) being arranged such that the person looks through the lenses. The position of each correction mounting (3) is variable such as to adjust an angle (a) between the axes of the lenses.
公开/授权文献
- EP3082567B1 DISPOSITIF ET PROCÉDÉ DE MESURE DE LA RÉFRACTION SUBJECTIVE 公开/授权日：2019-08-28
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