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发明公开
EP3139307A1 PROCEDE DE CARACTERISATION D'UN MATERIAU PAR ANALYSE DE TAVELURES 审中-公开
出于表征材料的方法散斑模式分析

  • 专利标题： PROCEDE DE CARACTERISATION D'UN MATERIAU PAR ANALYSE DE TAVELURES
  • 专利标题（英）： Method for characterising a material by speckle analysis
  • 专利标题（中）： 出于表征材料的方法散斑模式分析
  • 申请号： EP16186917.7
    申请日： 2016-09-02
  • 公开(公告)号： EP3139307A1
    公开(公告)日： 2017-03-08
  • 发明人: MAALOUF, Aldo , GUILLEMOT, Florence , CHIU, Rémy
  • 申请人： Safran Identity & Security
  • 申请人地址： 11, boulevard Gallieni 92130 Issy-les-Moulineaux FR
  • 专利权人： Safran Identity & Security
  • 当前专利权人： Safran Identity & Security
  • 当前专利权人地址： 11, boulevard Gallieni 92130 Issy-les-Moulineaux FR
  • 代理机构： Regimbeau
  • 优先权： FR1558272 20150907
  • 主分类号： G06K9/00
  • IPC分类号： G06K9/00 ;  G06K9/52
PROCEDE DE CARACTERISATION D'UN MATERIAU PAR ANALYSE DE TAVELURES
摘要：
L'invention propose un procédé de caractérisation d'un matériau dans lequel est formée une surface, comprenant les étapes consistant à :
- projeter sur la surface un faisceau lumineux cohérent, pour générer sur ladite surface des tavelures résultant d'interférences des rayons lumineux diffusés par ladite surface,
- acquérir une image de ladite surface sur laquelle apparaissent les tavelures,
- traiter ladite image pour calculer au moins un critère de caractérisation du matériau, et
- à partir des critères, déterminer le matériau constituant la surface,
dans lequel l'étape de traitement de l'image comprend :
- le calcul d'une fonction d'autocorrélation de l'intensité lumineuse sur l'image et le calcul de la valeur d'au moins un critère établi à partir de ladite fonction, et
- le calcul de la valeur d'au moins un critère représentatif d'une distribution de déphasages des rayons lumineux diffusés par la surface.
摘要（英）：

The invention provides a method of characterizing a material in which is formed a surface, comprising the steps of:
- projecting on the surface a coherent light beam, for generating on said surface of the speckles resulting from interference of light rays scattered by said surface,
- acquiring an image of said surface on which appear the speckle,
- processing said image to calculate at least one criterion characterizing the material, and
- based on the criteria, determine the material constituting the surface,
wherein the image processing step comprises:
- calculating an autocorrelation function of the light intensity on the image and calculating the value of at least one criterion determined from said function, and
- calculating the value of at least one criterion representative of a distribution of phase shifts of the light rays scattered by the surface.

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