Invention Publication
- Patent Title: PROCEDE DE CARACTERISATION D'UN MATERIAU PAR ANALYSE DE TAVELURES
- Patent Title (English): Method for characterising a material by speckle analysis
- Patent Title (中): 出于表征材料的方法散斑模式分析
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Application No.: EP16186917.7Application Date: 2016-09-02
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Publication No.: EP3139307A1Publication Date: 2017-03-08
- Inventor: MAALOUF, Aldo , GUILLEMOT, Florence , CHIU, Rémy
- Applicant: Safran Identity & Security
- Applicant Address: 11, boulevard Gallieni 92130 Issy-les-Moulineaux FR
- Assignee: Safran Identity & Security
- Current Assignee: Safran Identity & Security
- Current Assignee Address: 11, boulevard Gallieni 92130 Issy-les-Moulineaux FR
- Agency: Regimbeau
- Priority: FR1558272 20150907
- Main IPC: G06K9/00
- IPC: G06K9/00 ; G06K9/52
Abstract:
L'invention propose un procédé de caractérisation d'un matériau dans lequel est formée une surface, comprenant les étapes consistant à :
- projeter sur la surface un faisceau lumineux cohérent, pour générer sur ladite surface des tavelures résultant d'interférences des rayons lumineux diffusés par ladite surface,
- acquérir une image de ladite surface sur laquelle apparaissent les tavelures,
- traiter ladite image pour calculer au moins un critère de caractérisation du matériau, et
- à partir des critères, déterminer le matériau constituant la surface,
dans lequel l'étape de traitement de l'image comprend :
- le calcul d'une fonction d'autocorrélation de l'intensité lumineuse sur l'image et le calcul de la valeur d'au moins un critère établi à partir de ladite fonction, et
- le calcul de la valeur d'au moins un critère représentatif d'une distribution de déphasages des rayons lumineux diffusés par la surface.
- projeter sur la surface un faisceau lumineux cohérent, pour générer sur ladite surface des tavelures résultant d'interférences des rayons lumineux diffusés par ladite surface,
- acquérir une image de ladite surface sur laquelle apparaissent les tavelures,
- traiter ladite image pour calculer au moins un critère de caractérisation du matériau, et
- à partir des critères, déterminer le matériau constituant la surface,
dans lequel l'étape de traitement de l'image comprend :
- le calcul d'une fonction d'autocorrélation de l'intensité lumineuse sur l'image et le calcul de la valeur d'au moins un critère établi à partir de ladite fonction, et
- le calcul de la valeur d'au moins un critère représentatif d'une distribution de déphasages des rayons lumineux diffusés par la surface.
Public/Granted literature
- EP3139307B1 PROCEDE DE CARACTERISATION D'UN MATERIAU PAR ANALYSE DE TAVELURES Public/Granted day:2023-08-09
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