发明公开
- 专利标题: ARTEFAKTARME MAGNETRESONANZ-FINGERPRINTING-MESSUNG
- 专利标题(英): EP3296757A1 - Low artefact magnetic resonance fingerprinting measurement
- 专利标题(中): ARTEFAKTARME磁共振指纹测量
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申请号: EP17165569.9申请日: 2017-04-07
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公开(公告)号: EP3296757A1公开(公告)日: 2018-03-21
- 发明人: Kluge, Thomas , Körzdörfer, Gregor , Nittka, Mathias
- 申请人: Siemens Healthcare GmbH
- 申请人地址: Henkestraße 127 91052 Erlangen DE
- 专利权人: Siemens Healthcare GmbH
- 当前专利权人: Siemens Healthcare GmbH
- 当前专利权人地址: Henkestraße 127 91052 Erlangen DE
- 优先权: DE102016217675 20160915
- 主分类号: G01R33/48
- IPC分类号: G01R33/48 ; G01R33/56
摘要:
Es wird eine Bestimmung einer bevorzugten Reihenfolge von N k-Raumtrajektorien eines Abtastschemas, entlang welcher jeweils ein unterabgetasteter Messdatensatz für eine Magnetresonanz-Fingerprinting(MRF)-Messung gemessen werden soll, ermöglicht, derart, dass Artefakte in aus den Messdatensätzen mittels MRF-Verfahren erstellten Parameterkarten vermieden werden. Dazu wird eine Reihenfolge in welcher die N k-Raumtrajektorien zeitlich nacheinander abgetastet werden sollen variiert, sodass zumindest zwei unterschiedliche Reihenfolgen (Ord k ) entstehen. Entsprechend der durch die Variation entstandenen Reihenfolgen ermittelte Test-Signalverläufe werden miteinander und/oder mit idealen Signalverläufen bezüglich ihres Artefaktverhaltens verglichen und eine bevorzugte Reihenfolge aus den entstandenen Reihenfolgen unter Berücksichtigung der Ergebnisse des Vergleichens bestimmt.
公开/授权文献
- EP3296757B1 ARTEFAKTARME MAGNETRESONANZ-FINGERPRINTING-MESSUNG 公开/授权日:2024-09-04
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